存储测试系统

产品描述：

主要用于对DRAM、NAND Flash等存储芯片的软硬件进行测试并检查 IP 模块间的连接，为半导体器件的电路功能及电性能参数保驾护航。

产品特点：

1、全新设计架构，保障测试高数据速率下的信号完整性；

2、高速数字通道，提高大批量产品所需的并行测试能力；

3、具有灵活的多站点CPU架构，能够优化测试时间；

4、拥有独立的面向器件的工程测试系统，适用于测试程序的开发和调试；

5、高度的灵活性为所有新一代 NAND 测试能力和工程执行降低了投资风险。

6、采用通用协议板，易于升级，可扩展性强，以实现高投资回报率（ROI）。

7、采用模块化架构，根据应用需求，对必要的功能模块重新灵活配置，可以提供广泛的测试覆盖范围并以最优成本提供解决方案。